原子力顯微鏡Dimension Icon

性能優異、具備智能成像模式( Scan Asyst)和大樣品台的原子力顯微鏡

Bruker Dimension®Icon™原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有更高水平的性能，多種不同功能和配件選擇，測試功能強大，操作簡便易行。

通過齊集Dimension係統數十年的技術經驗、廣大客戶反饋、結合工業領域的設備需求，Dimension Icon進行了全麵革新。全新的係統設計，實現了更高水準的低漂移和低噪音水平。現在，用戶隻需要幾分鍾就可獲取真實準確的掃描圖像。

優異性能

·獨特的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現開環噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像。

·進一步有效的降低了噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級圖像，在輕敲模式下低於30pm

·熱漂移速率低千200pm/分鍾，獲得真正的無曲圖像

快速、高效的檢測效率

·XYZ閉環掃描器的新型設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也會不降低圖像質量，並有更好的數據采集效率。

·參數預設置中融入了多年的研發經驗，新的NanoS cope®軟件帶有默認的實驗模式 。

·高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

強大的多功能性

·針尖和樣品之間具有開放式空間，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，能夠滿足不同研究工作的需求

·在硬件和軟件技術方麵的不斷創新，新開發的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質

·用戶可通過使用程序腳本進行半自動測量和數據分析

產品特色

高性能和高分辨率

Dimension®Icon™是布魯克在針尖掃描技術上的一項革新技術，具有卓越的分辨率，與Bruker獨特的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。

係統配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在90微米掃描範圍、大樣品台係統上，效果甚至超過大部分高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸出量。

配置了Bruker的PeakForce®技術，Dimension Icon可實現智能獲取高分辨圖像。

接觸模式獲得的雲母原子圖像，掃描速度0.6Hz

卓越表現

DimensionIcon原子力顯微鏡已成為研究領域飽受歡迎的原子力顯微鏡型號之一， 使用DimensionIcon發表文章的數目比其他大樣品台AFM更多。Dimension Icon在原有的操作平台上引入新技術，展現出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過程比以往先進的AFM技術更加簡便。

現在，DimensionIcon用戶無需像以前一樣調整幾小時的專業參數，即可立即獲得高質量的測量結果。Dimension Icon的每個方麵，從完全開放式針尖樣品空間，到軟件參數預設置，都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM易用性。

Dimension Icon用戶操作界麵

應用廣泛，表現出眾

Dimension Icon可高速捕捉多通道數據，獲得更多高質量的測量結果。結合Bruker多項AFM方麵的技術和模式以及模式增強功能，Icon能夠提供卓越的儀器性能和出眾的測量表現，能夠幫助您在納米研究、材料研究等領域裏更上一層樓。

·材料成像

ICON支持Bruker的PeakForce ONM™成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時，還可以對樣品進行納米定量力學性能測試，同時獲得高分辨成像。此技術適用範圍很廣(模量從1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN)，可以對不同類型的樣品進行表征。

·電學表征

可以以更高的靈敏度和更大的動態範圍實現電學表征。把這些研究與其他技術結合起來，比如Dark Lift，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴散電阻顯微鏡，扭轉共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數據

·納米操縱

可實現在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的XYZ閉環掃描器可實現無壓電蠕變效應和超低噪音的精密探針定位，適用於任何納米操縱係統。

·加熱和冷卻

使用AFM不同模式掃描的同時，可實現-35°C到250°C的溫度控製和熱分析。使用熱探針可以在小於100nm的樣品局部加熱，達到400°C。

靈活的AFM平台

Dimension Icon 展現出了的卓越的性能，穩定性和靈活性，幾乎可以實現以前隻有在特製係統中才能完成的所有測量。利用開放式平台，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM的強大功能完全展現在科研領域和工業領域的研究者麵前，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的標準。

Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平台， 一個平台，無限可能：

·開放的平台，能整合其他技術

·開放的軟件和硬件，能輕鬆定製您的研究應用- "如果它不存在， 就發明它"

·電池、有機太陽能等研究的完整解決方案

左圖：手套箱中的AFM-拉曼聯用。右圖：光導AFM配件。

用AFM拓展您的應用

憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的AFM技術。

基於核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。

Dimension Icon數據示例：

左：輕敲 (Tapping) 模式中的syndiotactic polypropylene閉環成像。掃描範圍: 5μm。

右：Syndiotactic polypropylene結晶動力學研究: 本體聚合物從室溫(左)快速加熱至160℃的完全熔化狀態。128°C 時，促進了等溫結晶的平衡，並形成比原始層狀晶體更大的晶體。右圖顯示 101 分鍾的部分結晶圖像。

左：空氣中DNA的輕敲模式閉環圖像。掃描範圍: 2μm，掃描速率: 4.88Hz

中：HOPG上C36H74 烷的AFM圖像。清晰可見的片層結構間距，與完全擴展C36H74 鏈構象下的長度間距 (±4.5nm)一致

右：使用TR-TUNA模式對金圖案化矽基底上分散的單壁碳形貌和導電性同時成像。掃描範圍: 1μm

左：壓電薄膜材料上Dimension lcon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示Icon探針在刻蝕過程中的精確 XY 定位控製。掃描範圍: 20μm

中：HarmoniX 黏附力成像顯示毛細力相互作用

右：HOPG上C36H74 烷的閉環、高分辨率AFM 圖像。掃描範圍: 100nm