靈活的台式表麵形貌測量設備
ContourX-200光學輪廓儀融合了表征、可定製選項和易用性等特點，可提供快速、準確和可重複的非接觸式三維表麵計量方法。ContourX-200還配有分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易於使用的界麵和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用於加工的表麵，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。

高性能表麵計量
1、與放大倍率無關的Z軸分辨率
2、大尺寸的標準視場
3、穩定集成防震設計

高性能測量與分析功能
1、易於使用的界麵，可快速準確地獲得結果
2、自動化功能用於日常測量和分析
3、廣泛的濾鏡和分析工具選項，用於粗糙度和關鍵尺寸測量分析
4、滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定製化分析報告