產品概述

采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用於測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光範圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。

測量範圍: 100 nm -200um

波長範圍: 900 nm -2500 nm

適用於實時在線測量，多層測量，非均勻塗層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

測量指標：薄膜厚度，光學常數

界麵友好: 一鍵式測量和分析。

實用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動態測量和產線批量處理。