產品概述

該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(矽，單晶矽，多晶矽)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬塗層(碳化矽，類金剛石炭)，聚合物塗層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

測量範圍: 1 nm -20um(UVVis)，1nm-150um(UVVisNIR)

波長範圍: 200 nm -1000 nm(UVVis)

200nm-1700nm(UVVisNIR)

適用於實時在線測量，多層測量，非均勻塗層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等；

藍寶石基底上1025nm厚度的氧化物薄膜的反射率和透射率，波長範圍(200-1700nm)：