DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)在不損失Dimension®Icon®分辨率的儀器性能前提下，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

AFM使用效率和檢測性能，Bruker開發了這套快速掃描係統，不降低分辨率，不增加操作複雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現了利用Dimension快速掃描係統，即快速得到高分辨高質量AFM圖像的願望。當您對樣品進行掃描時，設置實驗參數為掃描速度>125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一技術重新定義了AFM儀器的操作和功能。。聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS製造，細胞表麵形態觀察，生物大分子的結構及性質，數據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，食品、化學品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質、能源、環境等領域的監測等各類科研和生產工作

儀器檢測性能

·在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節和檢測器調節，智能進針，大大縮短了實驗時間。

·自動測量軟件和高速掃描係統結合，提高了實驗數據的可信度和可重複性。

測量分辨率

·Fastscan的力控製模式圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。

·掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。

·低噪音，溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。

測試功能，適用於各類AFM樣品

·閉環控製的Icon和FastScan的掃描器降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低於30pm和40pm，具有低的熱漂移率，可得到分辨的真實圖像。

·FastScan可以對不同樣品進行測量，掃描過程中從埃級到0.1μm的無失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得低噪音和分辨率的圖像，還是選擇DimensionFastScanAFM的掃描器進行高速掃描檢測，DimensionFastScanAFM係統都會幫助您將儀器的功能開發到，實現其它單一模式的儀器所達不到的效果。