S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
數十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣泛用於對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低於PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用範圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。

優異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。

ICP 隻能分析完全溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進行元素分析
圖二：2 英寸晶片：汙染分析、深度剖析和材料科學研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學樣品，直接分析細胞培養物、塗片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小於54 毫米，用於膜片、濾片、納米顆粒層
定製的反射介質

行業應用：

·藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小於0.1 / 0.5ppm
·食品
糧農組織和世衛組織的食品標準：大米中的砷含量小於10 / 40ppb。
·環境監測
環境監測：地表水，廢水、汙泥和核廢液中的汙染物含量小於1 / 10ppb。