主要特點：
1.M6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發強度以及樣品台的快速移動情況下，仍可實現快速檢測。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內，根據樣品結構及所需空間分辨率調整到相應的尺寸。
4.采用布魯克的XFlash®矽漂移探測器，該探測器具有很高的計數率能力，在很寬的計數率範圍內擁有良好的能量分辨率。
5.電路為用戶提供X射線輻射風險防範措施。
6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發生碰撞。
7.由於M6 JETSTREAM的可移動性，不論樣品結構如何，它都可以很容易的準確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便於攜帶。

行業應用：

文物分析——能夠現場原位分析樣品，使用戶免去了搬運樣品的麻煩，同時避免了在搬運中對文物可能造成的損壞。

地球科學——可分析大鑽芯樣或者其他礦物樣品。

故障分析——可用於大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問題。