德國布魯克DektakXT台階儀（探針式表麵輪廓儀）可以提供更高的重複性和分辨率，測量重複性可以到5Å。台階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術，更加鞏固了其行業。不論應用於研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT台階儀（探針式表麵輪廓儀）的技術，使納米尺度的表麵輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用於微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二管的研發以及材料科學領域。

台階儀DektakXT能實現：

1、 使用溫度條件：10-30℃；

2、無可匹敵的性能，台階高度重現性低於4埃

3、Single-arch設計提供掃描穩定性

4、的“智能電子器件”設立了新低噪音基準

5、新硬件配置使數據采集時間縮短

6、64-bit，Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度高了10倍

7、頻率，操作簡易

8、直觀的Vision64用戶界麵，操作簡易

9、針尖自動校準係統

10、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現高的性能

11、單傳感器設計，提供單一平麵上低作用和寬掃描範圍

建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀，在基於微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀，內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit並行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
當需要台階高度、表麵粗糙度、測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得表麵測量

數據采集和分析速度
直接驅動掃描平台，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大範圍掃描3D形貌或者對於表麵應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在行業的質量和重現性前提下，DektakXT可以將數據采集處理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64，它可以大範圍3D形貌圖的高數據量處理速度，並且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內的直觀用戶界麵，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式，讓重複和常規的實驗操作變得更快速簡潔。