痕量分析 TXRF 光譜儀
TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素範圍13Al-92U。
需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內。
便攜式全反射熒光儀，設備小巧，一體化結構設計，不需要任何輔助設備及氣體、液氮等，可拿到現場進行分析。
1位及25位全自動進樣器兩款設計，分別適用於每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。
第四代XFlash®SDD矽漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。
由於全反射無背景，熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好，用戶不需要標樣就可以進行定量分析。

行業應用：

水、廢水、土壤中的汙染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫藥、刑偵、環保、陶瓷、水泥、建材、地質等領域。