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    X射線鍍層測厚儀

    更新時間:2021-03-02

    產品品牌:Bruker

    產品型號:M1 ORA

    產品描述:M1 ORA是適用於珠寶行業的台式X射線熒光光譜儀(μ-XRF)

    M1 ORA是適用於珠寶行業的台式X射線鍍層測厚儀,結構緊湊、占用空間小。

    M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素範圍:原子序數22號(鈦)以上的元素。
    上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對複雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析,數分鍾內就可以得到結果。

    樣品尺寸大可達100×100×100mm,無需處理,直接放在樣品台上檢測,采用光學顯微鏡進行準確定位。

    采用大感應麵積的正比計數器接收樣品發出的熒光信號。采集的信號越多,分析結果越準確。可以檢測含量在0.005的元素

    基於標樣模型或無標樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的元素。

    珠寶、黃金、貴金屬分析

    X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析,同時能夠得到高準確度測試結果的分析方法

    由於珠寶首飾件通常都小,又有些是采用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內的準直器將激發的X射線集中於一小點。

    行業應用:

    X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用於大量的黃金合金係列,可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

    黃金成分範圍0.35(8克拉/K)~(24克拉/K)

    適用於:白金、黃金、鉑合金、銀合金

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