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產品簡介

微區x射線熒光光譜分析技術是對大尺寸不規則、不均勻樣品、甚至微小包裹體進行高靈敏度、非破壞性的元素分析方法。

1. 矩形的真空室設計，樣品不需製備，可直接放入艙內檢測；

2. 優化的X射線光路，小光斑直徑降到20µm範圍內，且提供高的束流；

3. 多種儀器配置：可以選擇增加了X射線管或探測器；

4. 通過使用真空模式（低噪音泵）和SLEW窗口，獲得輕質元素的高靈敏度；

5. EasyLoad功能：方便樣本的裝入、取出，測量同時可以通過兩個影像係統查看樣品被測位置，

自動聚焦autofocus，樣品台移動和其它操作完全由鼠標控製。