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• 產品介紹 •

全反射X射線熒光光譜儀

作為一種常見的元素含量分析手段，X 射線熒光（XRF）光譜法在科研、工業、生命科學等領域中都有著廣泛的應用。而全反射X射線熒光光譜儀的出現，更是大地拓展了XRF 的應用範圍，突破傳統XRF的檢出限，實現了液體、固體、薄膜中超微量元素的檢測，檢出限低ppb級別。TXRF操作簡單，製樣便捷，耗材少，需少量樣品即可實現樣品中元素的定量分析，在樣品測試量大以及樣品種類多變的情況下，這一優勢顯著。因此，TXRF是原子吸收光譜法（AAS），電感耦合等離子體發射光譜法（ICP-OES）或質譜法（ICP-MS）等測試手段的良好補充，是生產、研究、檢測中元素含量分析的理想選擇。

應用領域廣泛

環境土壤，水質，大氣顆粒物，植物葉片等；生命科學中血液，尿液，醫藥，法檢等。

TXRF光譜儀技術優勢

·檢出限低ppb級別

·樣品製備簡單，不用消解，免壓片

·隨機配置製樣設備，不用其他耗材，測試成本低

·檢測效率高，單次進樣量達90個，能夠24小時連續運行

·維護簡單，運營成本低

·通用性，能夠實現液體、固體、薄膜中超微量元素的定性定量檢測

·通過軟件操作可實現設備自動校準，測試結果準確