白光幹涉儀的作用，可以進行膜厚測量，溝槽測量，翹曲分析，表麵粗糙度測量，表麵高度及盲孔測量，樣品表麵圖案尺寸測量等。廣泛應用於半導體，光學器件，太陽能電池，MEMS，生命科學，材料學等行業。

Conductive AFM (cAFM) — 導電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導電和半導體材料的導電率變化。CAFM的電流範圍為pA至μA。

Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規律研究的新利器。

布魯克元素分析產品選型指南

是利用物質在火花激發下，檢測器通過檢測不同元素的特征譜線，而進行元素的定性與定量分析的。

地質礦石樣品多種多樣，手持式熒光光譜儀在應對不同的樣品時有著不同的測試方法。